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台州衍射仪批发商 上海泽权仪器供应

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  • 原产地上海市
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产品描述

X射线衍射仪是研究物质的物相和晶体结构的主要方法,主要功能为物相定性或定量分析,台州衍射仪批发商、晶胞参数测定、点阵畸变测定、小角衍射、薄膜分析、微区测量、织构和应力分析等。仪器由X射线发生器、X射线检测器、高压电路、测量电路、冷却装置和计算机软件组成。在对某物质进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质物相组成、晶型等决定了该物质产生特有的衍射图形,每种晶体的结构与其X射线衍射图形之间存在着一一对应关系,台州衍射仪批发商,台州衍射仪批发商,通过数据库检索可以进行物相鉴定。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。X射线衍射仪作为材料结构和晶体成分分析的一种现代分析测试仪器,在各学科研究和生产中广泛应用。X射线衍射即XRD,通过对材料进行X射线衍射。台州衍射仪批发商

X射线衍射的一般实验过程:样品制备:对于粉末样品,通常要求其颗粒的平均粒径控制在5mm左右,即过320目的筛子,还要求试样无择优取向。因此,通常应用玛瑙研钵对待测样品进行充分研磨后使用。对于块状样品应切割出合适的大小,即不超过铝制样品架的矩形孔洞的尺寸,另外还要用砂轮和砂纸将其测试面磨得平整光滑。充填试样:将适量研磨好的试样粉末填入样品架的凹槽中,使粉末试样在凹槽里均匀分布,并用平整光滑的玻片将其压紧;将槽外或高出样品架的多余粉末刮去,然后重新将样品压平实,使样品表面与样品架边缘在同一水平面上。块状样品直接用橡皮泥或石蜡粘在铝制样品架的矩形孔洞中,要求样品表面与铝制样品架表面平齐。台州衍射仪批发商不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值。

当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长λ已知时(选用固定波长的特征x射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(debye—scherrer)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算x射线的波长,从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。

使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱,相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的X射线衍射谱来说,它的谱图特征可能是:衍射峰数量可能会变少,峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱;如果测试时单晶样品不旋转,有些峰可能就根本不出现,因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射;其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。若将一束单色X射线照射到一粒静止的单晶体上,入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ,其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射,常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角,会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是:一为回摆法,二为四圆衍射仪法。上海泽权衍射仪品质保障。欢迎来电咨询上海泽权!

x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料。由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近。台州衍射仪批发商

新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数。台州衍射仪批发商

用x射线照射固体时,由于光电效应,原子的某一能级的电子被击出物体之外,此电子称为光电子。如果x射线光子的能量为hν,电子在该能级上的结合能为eb,射出固体后的动能为ec,则它们之间的关系为: hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数,它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外,还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面,即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为: eb=hν-ec-ws 可见,当入射x射线能量一定后,若测出功函数和电子的动能,即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出,因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这是光电子能谱仪的基本测试原理。台州衍射仪批发商

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