上海光电测试系统价格 诚信为本 上海明策供应

Inframet MTB面源黑体有优异的温度分辨率，时间稳定性，很高的温度均匀性和优异的温度精度。 所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

主要特性

高分辨率的温度调节（0.01ºC，优于市场上其他的黑体，通常这些黑体分辨率为0.1ºC）；非常好的时间稳定性（0.1ºC，优于市场上提供的其他黑体，通常为0.5ºC）；良好的温度均匀性（1ºC@125ºC，市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm）；所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 精确测量，光电技术领航纺织行业自动化。上海光电测试系统价格

OPO测试系统为计算机化的系统，用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器，CTG控制器，一组靶标，一组圆孔，CPO10100投射式平行光管，MP-A机械平台，MP-B机械平台，MP-C平台，DPM66屈光度计，计算机，图像采集卡，一组孔径调节器以及TOPO测试软件。

产品参数如下

表1被测光学系统范围

参数：数值

入射口径范围：10-60mm

出射口径范围：2-60mm

放大率范围：-30x

表2测试调节范围

参数：数值

模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

离轴角范围：0°-30°

上海光电测试系统价格Inframet OPO 望远瞄准测试系统，提升电子产品生产线质量控制。

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统，可测试长程夜视瞄准设备，同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计，包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。NVS测试系统的测试过程是基于MIL系列标准的建议。NVS测量系统投影一个标准靶标的图像到水平固定的被测夜视仪。通过调节两个旋钮，操作者可以控制透射到被测量夜视仪光的强度和靶标的类型。被测量器件生成一个畸变的标准靶标的图像。通过人眼观察或者借助测量工具如亮度计来评估这个畸变的图像，得到被测量器件的重要参数。

Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（只需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。

Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料，如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率，则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜（或者两个反射镜）的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管，满足您的需求。 Inframet NVS 夜视设备多功能测试 系统，助力航空航天器热防护系统测试。

FUT靶标为棋盘型靶标，采用大面积、均匀温度的辐射源，经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大，能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集，为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标，通常不能够进行调节高温度。操作较为简单，插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。

测试功能：FUT靶标可以用于以下测试：•对准误差（热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度）•旋转误差（热通道图像与可见通道图像之间的角度）•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图（与另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）•热像仪分辨率测试 IR FPA 传感器 焦平面阵列传感器，为智能穿戴设备提供精细传感器测试。上海光电测试系统价格

光电系统应用于科研，守护安全的技术盾牌。上海光电测试系统价格

MTB系列黑体是精密的面源黑体，旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm，具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用：1、在中温范围内测量热像仪的精度（已知温度的面源）。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统

至高温度：典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度，则最高温度可以降低到350℃，并且提供更好的热均匀性。 上海光电测试系统价格